2016年10月26-28日，美信檢測亮相第七屆中國國際納米技術產業博覽會（簡稱“納博會”），本屆博覽會主要聚焦納米新材料、分析與檢測、微納制造、納米生物與醫藥、納米環保與清潔等領域的產品與技術，展會現場，俄羅斯展團、加拿大展團、伊朗展團、韓國展團、北京展團、深圳展團、臺灣展團及沙特展團等超過8個國際與地區展團攜帶納米技術領域的新產品與技術亮相納博會。

美信檢測受邀參加本次大會，目前先進的納米級材料檢測技術現場展示與專業工程師的講解是展會的一大亮點，本次展會主要分享了高端表面分析技術，利用電子、光子、離子、原子、強電場、熱能等與固體表面的相互作用，測量從表面散射或發射的電子、光子、離子、原子、分子的能譜、光譜、質譜、空間分布或衍射圖像，得到表面成分、表面結構、表面電子態及表面物理化學過程等信息，具體的高端分析技術如AES、XPS、TOF-SIMS、D-SIMS、FIB、TEM、XRD等，現場專業觀眾慕名而來，與美信檢測專業技術工程師共同探討技術問題。

該展會展示的項目可檢測納米級微區元素定量分析、極表面元素定量分析、元素濃度深度剖析、納米級超薄膜厚分析、元素價態分析、微米級微區元素定量分析、ppm級別痕量有機物分子式分析、ppb級別摻雜雜質元素濃度深度剖析、微區定位切割、電路修改、晶體取向分析、晶格參數測定等等。美信檢測致力于材料檢測，針對納米材料相關檢測項目已非常完善，美信檢測可大大降低材料技術領域創新團隊的創業成本和創業難度，提升轉化效率和成功率，推動項目的研發和產業化，搶占材料技術領域制高點，也可幫助企業保證產品質量，降低研發成本，為各企業提供一站式檢測咨詢服務。

AES分析某元器件起泡位置存在S污染
晶粒度	FIB電路鍍層厚度觀察

本屆納博會大咖云集，市委常委、副市長、園區工委書記王翔出席開幕式。并邀請美國科學院院士楊培東教授、澳大利亞科學院和工程院院士余艾冰教授、中科院院士江雷研究員和美國斯坦福大學崔屹教授，中國納米科學中心納米標準研究室主任葛廣路等一批國內外知名專家、企業家，美信檢測在參加展會的同時，不斷吸收先進的技術，致力于為客戶提供專業的技術服務。

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MTT（美信檢測）是一家從事材料及零部件品質檢驗、鑒定、認證及失效分析服務的第三方實驗室，網址：m.czyx888.com，聯系電話：400-850-4050。